技術(shù)探析:淺談變頻器散熱系統(tǒng)的設(shè)計及優(yōu)化方案

2013-11-29 14:47 來源:互聯(lián)網(wǎng) 作者:和靜

引言

變頻器屬大功率電力電子設(shè)備,內(nèi)部需配備大量功率半導(dǎo)體器件,工作過程中會產(chǎn)生大量熱量。而功率半導(dǎo)體器件屬溫度敏感器件,因結(jié)溫過高導(dǎo)致功率半導(dǎo)體器件燒毀是變頻器故障中最常見的原因之一。為保證變頻器設(shè)備的穩(wěn)定可靠運(yùn)行,散熱系統(tǒng)的設(shè)計是關(guān)鍵的一環(huán)。實際經(jīng)驗表明,散熱系統(tǒng)設(shè)計的好壞,直接影響到變頻器能否長時間安全穩(wěn)定的工作。

一、變頻器散熱系統(tǒng)設(shè)計

變頻器散熱系統(tǒng)的設(shè)計包括以下三個方面:

1、依據(jù)負(fù)載計算功率器件的損耗【1】;

2、功率器件及散熱器的熱阻計算及建模仿真,求取散熱器與功率器件各點(diǎn)的溫度【1】;

3、根據(jù)各點(diǎn)的溫升以及實際環(huán)境條件,調(diào)整風(fēng)扇選型、散熱器以及風(fēng)道設(shè)計,確定最終的散熱系統(tǒng)方案【1】。

(一)損耗的計算

以IGBT模塊為例,損耗分為開關(guān)損耗和導(dǎo)通損耗。其中開關(guān)損耗又分為IGBT芯片的開關(guān)損耗和DIODE芯片的反向恢復(fù)損耗,其計算公式如下:

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由上式可知:開關(guān)損耗與開關(guān)頻率成正比,與輸出電流成正比,與直流電壓成正比。

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導(dǎo)通損耗也分為IGBT芯片的導(dǎo)通損耗和DIODE芯片的導(dǎo)通損耗,計算一般分為:

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通過簡化可以得到以下公式:

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上述參數(shù)也可以通過線性擬合來獲知,從而得到實際電流時的導(dǎo)通損耗。

在實際損耗計算中,還要考慮結(jié)溫影響、過載損耗、不同工況條件下?lián)p耗等因素。

(二)熱阻的計算及建模仿真

熱阻表示熱量在熱流路徑上遇到的阻力大小,反映介質(zhì)或介質(zhì)間的傳熱能力的大小,表明了1W熱量所引起的溫升大小,單位為℃/W或K/W。(一般表達(dá)熱阻時,需說明從某處到某處的熱阻,可以分別表示)

對于IGBT的熱阻,可以通過器件手冊中的數(shù)據(jù)獲悉其結(jié)殼的熱阻Rjc。散熱器的熱阻以強(qiáng)制空氣冷卻用散熱器為例,熱阻經(jīng)驗公式為:

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式中,k為散熱器熱導(dǎo)率,單位W/(cm·℃);d為散熱器基板厚度,單位cm;A為散熱器有效散熱面積,單位cm2;C1為散熱器表面狀況和安裝狀態(tài)相關(guān)系數(shù),散熱器水平安裝與垂直安裝的散熱效果不同;C2為強(qiáng)迫風(fēng)冷條件下散熱器相對熱阻系數(shù);C3為空氣換熱系數(shù)。

在設(shè)計工作中,還應(yīng)考慮導(dǎo)熱硅脂的熱阻和不同風(fēng)扇的風(fēng)量等因素,并通過實際測試結(jié)果與計算值對照進(jìn)行建模仿真,求取功率器件和散熱器各關(guān)鍵點(diǎn)的溫升。

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變頻器散熱系統(tǒng)

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