UnitySC推出全新計量平臺Unity_ATHOS

2019-07-10 16:16 來源:美通社 作者:Angelina

- 該平臺為半導體制造領域的先進封裝和晶圓加工生態(tài)系統(tǒng)提供大力支持

- UnitySC不斷打造創(chuàng)新檢測和計量產(chǎn)品,以一流的解決方案滿足先進的半導體制造工藝需求

- 歐洲領先的檢測和計量解決方案提供商UnitySC今天推出Unity_ATHOS?系統(tǒng),對高密度扇出、嵌入式扇出以及采用或不采用硅通孔技術(TSV)的異構封裝進行二維/三維(2D/3D)先進計量與工藝控制。Unity_ATHOS?是一種新型檢測和計量系統(tǒng),可滿足多種應用需求,包括對異構封裝中裸片與晶圓鍵合的裸片堆疊控制、塑封料減薄和3D空洞檢測、高密度TSV(從刻蝕到銅釘露出),μbump和重布線層(RDL),支持s/l大小不等的焊盤尺寸,最小為1/1微米。

與上一代TMAP(進氣歧管絕對壓力)傳感器相比,新發(fā)布的Unity_ATHOS?平臺速度提高了30%,準確度更高,擁有成本也更低。在開發(fā)過程中,該公司與關鍵合作伙伴進行了更深入的探討,使該產(chǎn)品能夠幫助客戶更好地完善產(chǎn)品路線圖。由于采用模塊化設計,它可以根據(jù)每位客戶的具體需求來進行配置,在保證靈活性的同時,不會影響性能。

Unity_ATHOS?解決方案還支持外包半導體封裝測試廠(OSAT)、代工制造廠和整合元件制造廠(IDM)對制造工藝進行全面控制,包括關鍵的前端和后端工藝,如晶圓減薄和劃片。

Unity_ATHOS?系統(tǒng)可處理最大尺寸為300毫米的晶圓和面板,包括薄晶圓、重建晶圓和劃片框架上的晶圓。

此外,近紅外/可見(NIR/VIS)光學顯微鏡與寬波段干涉和光譜共焦技術的結合,可對晶圓的正反面進行二維與三維檢測,以確保工藝開發(fā)和之后的大批量生產(chǎn)。

Unity_ATHOS?系統(tǒng)是一款獨立式產(chǎn)品,最多可配置三個300毫米裝載端口,符合ISO 5至ISO 2制造標準,可隨時與LighTiX產(chǎn)品相集成。

Unity SC首席執(zhí)行官卡梅爾-艾特-馬伊烏(Kamel Ait-Mahiout)表示:“我們很自豪UnitySC推出了最新設計的工藝控制解決方案,這將為我們半導體行業(yè),具體說是先進封裝領域的合作伙伴提供更好的服務。除現(xiàn)有的LighTiX、LightsEE和LightSpeed工藝控制解決方案外,這款新產(chǎn)品的發(fā)布進一步壯大了我們的產(chǎn)品組合。UnitySC是以客戶需求為導向,為先進封裝領域提供一流解決方案的市場領軍者,也是幫助客戶解決制造工藝難題的理想合作伙伴,新系統(tǒng)的推出將大大鞏固我們公司的領先優(yōu)勢?!?

UnitySC Unity_ATHOS 半導體封裝

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