簡介
由于機械結構的限制，自適應前照燈系統(tǒng)(AFS)應用中，步進電機有時可能會堵轉。一旦電機堵轉，電子控制單元(ECU)將失去前照燈位置的跟蹤信息并作出不恰當?shù)姆磻?，滋生極嚴重的安全問題，所以AFS應用中堵轉檢測是必不可少的。
通常可以通過電機的反電動勢(BEMF)來判斷電機堵轉與否。BEMF因電機速度、負載及供電電壓的不同而變化。傳統(tǒng)的步進電機驅動芯片無BEMF輸出，但包含內置堵轉檢測算法?？蛻魞H可以在寄存器里設定固定的堵轉認定臨界值，這表示在真實道路條件下所有設定值都必須在工作之前“離線”預設，而不能適配真實工作條件。
安森美半導體的NCV70522微步步進電機驅動器透過SLA引腳提供BEMF輸出，這表示它能實時進行停轉檢測計算，并根據(jù)不同條件來調節(jié)檢測等級。
算法說明
由于線圈電流衰減期間的再循環(huán)電流相對較大，線圈電壓Vcoil就展示出瞬態(tài)特性。由于應用軟件中并不總是想要瞬態(tài)，就可以通過位的設定值來選擇兩種工作模式。在為高下，SLA引腳顯示出完全可視的電壓瞬態(tài)特性。如果位被清除，那么SLA引腳上僅可視每個線圈電流過零末端的電壓樣本。由于線圈電壓的瞬態(tài)特性不再可視，這種模式產生更平常的BEMF輸入，用于軟件等的后續(xù)處理。
為了將采樣的BEMF輸出電平適應到(0 V至5 V)范圍，采樣的線圈電壓Vcoil可選擇被除以2或4。此設定通過SPI位來控制。下圖顯示了SLA引腳的工作，透明位“PWMsh”及“Icoil=0”是內部信號，與SLAT一起定義線圈電壓的采樣以及維持瞬間。
此BEMF電壓在每個所謂的“線圈電流過零”期間采樣。每個線圈在每個電氣周期內存在2個零電流位置，因而每個電氣周期共有4個過零觀察點，故可以測量4次BEMF。如果微步位置位于“線圈電流過零點”，BEMF電壓將僅由電機驅動器采樣。微步位置可以通過SPI接口來讀取。
通過軟件，我們可以基于測量的1個電氣周期內的4次SLA值來靈活地判斷是否堵轉。
